黄仁勋称Blackwell芯片曾存在设计缺陷：靠台积电力挽狂澜！ 10月23日讯 英伟达 CEO 黄仁勋于当地时间周三在访问丹麦时表示：该公司最新的 Blackwell 芯片曾存在设计缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低。”他还表示，这一缺陷“100% 是英伟达的错”，后来全靠台积电的协助才得以从这一挫折中恢复过来，并“以惊人的速度”恢复工作。除此之外，他还提到欧盟在 AI 投资方面远远落后于美国和中国。值得一提的是，黄仁勋在丹麦... 2024-10-24 00:55:10 电竞赛事 18 0
